Comparison of determining the 10B and 6Li depth profiles based on NDP and SIMS analytical methods
Số trang: 10
Loại file: pdf
Dung lượng: 859.01 KB
Lượt xem: 49
Lượt tải: 0
Xem trước 2 trang đầu tiên của tài liệu này:
Thông tin tài liệu:
In the study "Comparison of determining the 10B and 6Li depth profiles based on NDP and SIMS analytical methods" the comparison of the analytical results between SIMS (Secondary-ion mass spectrometry) and NDP (Neutron Depth Profiling) methods have been carried out with LiCoO2 and BSi samples. The NDP is an analytical method to analyze the component nuclide concentration versus depth distribution in a sample by detecting the charged particles emitted after the neutrons are absorbed.
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Comparison of determining the 10B and 6Li depth profiles based on NDP and SIMS analytical methods
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Comparison of determining the 10B and 6Li depth profiles based on NDP and SIMS analytical methods
Tìm kiếm theo từ khóa liên quan:
Kỷ yếu hội nghị khoa học Hội nghị khoa học Vật lý và Khoa học vật liệu Lithium thin-film batteries Secondary-ion mass spectrometry Neutron depth profiling Component nuclide concentrationTài liệu có liên quan:
-
Năng lượng giải tích ở trạng thái cơ bản của exciton hai chiều trong từ trường đều
14 trang 33 0 0 -
13 trang 30 0 0
-
Tháo gỡ những rào cản, thúc đẩy tăng trưởng bền vững trong xuất khẩu rau quả Việt Nam
6 trang 28 0 0 -
9 trang 27 0 0
-
Quan điểm phát triển bền vững của Đảng cộng sản Việt Nam qua các kỳ đại hội từ năm 1986 đến nay
9 trang 26 0 0 -
Investigating a quickly cooling process of 2D SiC by molecular dynamics simulation
13 trang 26 0 0 -
Nghiên cứu các đặc tính hấp phụ khí của đơn lớp Sc2CO2 bằng các tính toán DFT
17 trang 25 0 0 -
Vận dụng tư tưởng Hồ Chí Minh về bảo vệ môi trường trong giai đoạn hiện nay
7 trang 24 0 0 -
12 trang 23 0 0
-
Zinc-doped silicene nanoribbons under the influence of constant electric field: A DFT study
8 trang 23 0 0